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LAM-A高精度叶面积仪

LAM-A高精度叶面积仪是一种使用方便、可以在野外工作的便携式仪器。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数,也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。

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DDZ抗倒伏测定仪

DDZ抗倒伏测定仪通过配置的探针、拉钩、压板等附件来测量农作物的茎秆强度及抗倒伏能力。

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LAM-D拍照式叶面积仪

LAM-D拍照式叶面积仪由图像采集设备和图像处理软件组成,采用本公司新开发的图像识别软件,根据叶片轮廓特征提取、图形实物转换、边缘检测等技术,能够形象并快速得到所测叶片面积、周长、虫洞数量等参数。

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RT 系列 NDVI植被光谱调查系统

单传感器设计,可以同时连接多个探头放置于拖拉机横梁上,用于农作物植被覆盖指数NDVI的调查

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DDZ泛胜玉米抗倒伏测定仪

DDZ泛胜玉米抗倒伏测定仪通过配置的刺针、拉钩、压板等附件来测量玉米的茎秆强度及抗倒伏能力。

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Dendrometer 植物茎干生长测量仪

生长测量仪帮助我们廉价,连续提供关于植物生长的数据

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SPAD-502Plus叶绿素仪

SPAD-502Plus叶绿素仪可以即时测量植物的叶绿素相对含量或“绿色程度”。

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SPAD-2高精度新型叶绿素测定仪

SPAD-2高精度新型叶绿素测定仪根据叶绿素光谱吸收规律,采用两种不同的发光管照射叶片,通过测量透过叶片的光的强度计算出叶片内的叶绿素相对含量或者绿色程度。

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叶绿素仪测量原理

YLS-A叶绿素仪可以准确测量出植物叶片中叶绿素的相对含量,从而为合理、适当、及时施肥提供可靠的科学依据,广泛应用于农业生产和科学研究。

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泛胜DDY茎秆强度仪

泛胜DDY茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺,压碎、和弯曲强度,茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力,即茎秆的强度。

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